计算机化发射率测量设备 - LTEK在线
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计算机化发射率测量装置
计算机化发射率测量装置
产品代码:LTEKCTLB-HET08-15002

招标描述和计算机化发射率测量装置的规范

计算机化发射率测量装置

计算机化的发射率测量装置提供了通过辐射传热主题的目标教学的基本实验。在实验单元的核心,是由浓缩光束加热的金属样品。光束由连续调节的卤素灯和抛物线反射器产生。反射器将辐射集中在焦点上。将样品放置在位于焦点的热电偶上。样品发出的热辐射通过热疏水来测量。为了能够测量不同距离的辐射,热电堆安装在可移动的托架上。

热辐射是三种基本形式的传热之一。在辐射中,传热通过电磁波进行。与热传导和对流不同,热辐射也可以在真空中传播。热辐射不与材料结合。

基于微处理器的仪器在外壳中受到很好的保护。系统操作和数据采集和教育软件的软件。通过解释性文本和插图,教育软件有助于了解理论原则的理解。该设备通过USB连接到PC。

特征

  • 不同表面对辐射热传递的影响
  • 功能教育软件,数据采集,系统操作
  • 传热基础
  • 验证Lambert的逆行法
  • 验证Stefan-Boltzmann法律
  • 验证Kirchhoff的法律
  • 研究暂态行为
  • 创建电源余额

规格

  • 卤素灯

电力150W

最大限度。温度:约。560℃

  • 铝样品,Ø20mm

双方1x哑光阳极氧化

1x涂在两侧(高温涂料)

1x哑光阳极氧化有一个涂层

  • 铜样品,Ø20mm

1x镀镍

1x严重氧化

  • 钢样品,Ø20mm

1x严重氧化

  • 测量范围
    温度:0 ... 780°C

辐射强度:0 ... 1250W / m2

  • 操作所需

230V,50Hz,1相
230V,60Hz,1相;120V,60Hz,1相

尺寸及重量

  • LXWXH(约。):700x450x400mm
  • 重量(约。):20kg

LTEKONLINE是用于展示工程学院,工程学校和工程学校和工程学校的工程原则的计算机化发射率测量装置的制造商。热量和传质实验室设备高校工程教学实验室

类别:热量和传质实验室设备

标签:计算机化发射率测量装置

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